一台典型的icp光谱仪主要由一个光学平台和一个检测系统组成。包括以下几个主要部分：
1. 入射狭缝: 在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2. 准直元件: 使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3. 色散元件: 通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4. ---元件: ---色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5. 探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。
双向观测：双向观测是在水平观测icp光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，吉天icp光谱仪供货商，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。该观测方式的切换反射镜由计算机控制，该方式融合了轴向、径向的特点，具有一定的灵活性，增强了测定复杂样品的能力。改观测方式可实现以下3---式的测量：
全部元素谱线水平测量。
全部元素谱线垂直测量。
部分元素谱线水平测量，部分元素谱线垂直测量。
双向观测能有效解决水平观测中存在的电子干扰，进一步扩宽线性范围。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可 能导致仪器的稳定性变差。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，导致炬管的寿命---降低，同时也改变了炬焰的形状。炬管开口处必须严格与光路对准，要不然炬管壁容易积累盐，会使检测结果---错误;同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在---的错误，必须注意清洗。而且增加了---次数，降低了分析速度，增加了分析消耗。
1、 炉中取的样品只要打磨掉表面氧化皮，固体样品即可放在样品台上激发，免去了化学分析钻取试样的麻烦.对于铝及铜、锌等有色金属样品而言，吉天icp光谱仪厂家，可用小车床车去表面氧化皮即可.
2、 从样品激发到计算机报出元素分析含量只需20-30秒钟，速度非常快，吉天icp光谱仪，有利于缩短冶炼时间，降低成本.---是对那些容易烧损的元素，更便于控制其后的成份.
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